証券アナリストジャーナル 2022年7月号(第60巻第7号) P.97～P.108に、ニッセイ基礎研究所上席研究員 チーフ株式ストラデジスト井出 真吾様、早稲田大学大学院経営管理研究科の竹原 均教授の共同執筆による「企業成熟度、技術競争力とデフォルトリスク」が掲載されました。
本論文では、企業成熟度と技術競争力（YK値）が、倒産距離とそれに含まれるパラメータに与える影響を分析しています。
長期パネルデータを使用した回帰分析の結果から、成熟度と技術競争力（YK値）は総資産ボラティリティを低下させるものの、倒産距離を上昇させる状況は確認できないことや、その一方で、技術競争力（YK値）は企業成熟度と総資産ボラティリティ、並びに総資産成長率との間に確認された負の相関関係を緩和するモデレータであることが明らかにされました。
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